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PRODUCT CLASSIFICATION日本進口HORIBA堀場IT-545N輻射溫度計 一種方便的非接觸式輻射溫度計,可讓您使用點標記查看測量位置。雖然它是行業(yè)最高標準的高精度溫度計* ,但它攜帶方便,讓您輕松測量溫度。可以實現非接觸、準確、高效的溫度測量,例如在高溫、高壓的危險場所,例如檢查變電站設備的異常發(fā)熱,或者在快速衛(wèi)生測量時,例如檢查冷藏食品的溫度。
北崎原裝HORIBA堀場輻射溫度計IT-545NH 一種方便的非接觸式輻射溫度計,可讓您使用點標記查看測量位置。雖然它是行業(yè)最高標準的高精度溫度計* ,但它攜帶方便,讓您輕松測量溫度??梢詫崿F非接觸、準確、高效的溫度測量,例如在高溫、高壓的危險場所,例如檢查變電站設備的異常發(fā)熱,或者在快速衛(wèi)生測量時,例如檢查冷藏食品的溫度。
HORIBA堀場小型等離子發(fā)射監(jiān)測器EV2.0 LR 在半導體制造工藝中,等離子體技術被廣泛應用于各種制造工藝中,包括薄膜沉積和蝕刻。 該等離子體發(fā)射監(jiān)測儀可用于廣泛的應用,從各種等離子體室的研發(fā)到生產線,例如工藝終點檢測、狀態(tài)管理和等離子體診斷。
現貨HORIBA堀場等離子發(fā)射監(jiān)測器EV2.0 STD 在半導體制造工藝中,等離子體技術被廣泛應用于各種制造工藝中,包括薄膜沉積和蝕刻。 該等離子體發(fā)射監(jiān)測儀可用于廣泛的應用,從各種等離子體室的研發(fā)到生產線,例如工藝終點檢測、狀態(tài)管理和等離子體診斷。
進口HORIBA堀場EV2.0 HR等離子發(fā)射監(jiān)測器 在半導體制造工藝中,等離子體技術被廣泛應用于各種制造工藝中,包括薄膜沉積和蝕刻。 該等離子體發(fā)射監(jiān)測儀可用于廣泛的應用,從各種等離子體室的研發(fā)到生產線,例如工藝終點檢測、狀態(tài)管理和等離子體診斷。
原裝HORIBA堀場等離子發(fā)射控制器RU-1000 使用反應濺射將觸摸面板和玻璃基板的薄膜沉積在基材上。反應性濺射是在真空中使濺射粒子與氧或氮發(fā)生化學反應來成膜的方法,但定量供給反應氣體的方法會減慢成膜速度,難以實用化。然而,已知存在一種不穩(wěn)定的過渡模式,其中沉積速率在沉積速率快??的反應模式和金屬模式之間變化很大,并且可以通過基于等離子體控制反應氣體來維持過渡區(qū)域排放強度。